测试方法如下1、将探针台双探针的两根线缆与测试源表（如Keithley、安捷伦）连接，保证源表地线接地良好；2、在显微镜下，将两根探针分别分别接触二极管芯片的正负级；3、在测试源表中设置需要测试的参数，如扫描电压范围，进行测试即可。4、测试IC芯片时双探针可能不够用，可能需要定制探针卡。
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